SJT 10386-1993 电子工业专用设备可靠性指标验证试验方法
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ID： |
004D60C805B64CC0B322D3D346003BA7 |
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文件大小(MB)： |
0.34 |
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页数： |
13 |
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文件格式： |
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日期： |
2013-7-16 |
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SJ,中华人民共和国电子行业标准,sJ/T 10386-93,电子 工业专用设备,可靠性指标验证试验方法,Compliance test method of reliability target,for electronic industry special equipment,1993-09-28发布1994-01-01实施,中华人民共和国电子工业部发布,中华人民共和国电子行业标准,电子工业专用设备可靠性指标验证试验方法sJ/T.10 386=93,Compliance test method of reliability target,for electronic industry sliecial equipment,主题内容与适用范围,本 标准 规 定了电子工业专用设备(以,-简称设备)可靠性指标平均故障间隔时间(MTBF),的验证试验方法,本 标准 适 用干供需双方对设备的平均故障间隔时间(MTBF)进行鉴定、验收及考核,引用标准,GJ B 2 99A,GJ B 3 67.3,G B 5 08 0 .1,G B 5 08 0 .7,验方案,电子设备可靠性预计手册,军用通信设备通用技术条件可靠性鉴定试验和验收试验,设备可靠性试验总要求,设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试,验证试验方法,本标准验证试验的M"FBF是指点估计(观测值)从，即:,式中:m.— 设备的平均故障间隔时间的点估计(观测值);,7.. — 设 备 累 积 的相关工作时间(或试验时间);,r— 设 备 累 积 的 关联失效数;,t;— 第 J 台 设 备 相关工作时间(或试验时间);,n下 一一 投 入 验证 试验的台数,本标 准 的 验证试验方法有二种:使用现场法’试验室法。通常以使用现场法为主要验证试,验方法,3.1 使用现场法,’ 将被验证的设备(简称受验设备)安装于使用现场，按规定的环境条件、工作条件及应力进,行生产运行，到验证试验方案规定的时间为止，统计出平均无故障工作时间,中华人民共和国电子工业部1993-09=28批准1994-01-01实施,sJ/T 10386-93,3.1.1 验证试验方案,本 标 准 推荐采用GB 5080.7 标准中的序贯截尾统计试验方案.1:7和4:，，详见附录A,表A1~表A3;其判决标准图，接收概率曲线见附录A图Ai~图A4。现场管理等条件较好,批量大的设备也可采川定!!才截尾统计试验方案5=3,5=7,5=9，见附录A表A5及图A5^,图A7,验 证 试 验方案的参数川下式确定:,a. m。 的确定:,mo = K X M T B F s,根据 选 定 的方案，查附录A表A4得K系数值,式中:MTBFs— 合同(协议)规定的平均故障间隔时间;,"I( )— 规 定 可接收的平均故障间隔时间;,K— 系 数;，m(、与M1 'BF‘之比,b. T 的确定:,T= < m o 的 倍 数 )X ) i t(,根 据 选 定的方案，查表八2、表A3或表A5，得;t(、的倍数,式中:T— 累积相关工作时间(截尾试验时间),3.1.2 验证试验样本,可 单 台 进行。如果设备量大，采用抽样进行验证，样本数量n,母体中随机抽取,表 1 试 验 样 品 抽 样 表,’批 量 大小 } “k’佳样品数},的大小，按表L推荐的数量从,1- 3,最大样品数,全 部,4^-16,17"-52 15,3.2 试验室法,.将 受验设备置干试验室内，模拟使用现场环境条件、工作条件及应力进行试验，到试验方,案规定的时间为止，统计出平均故障间隔时间,3.2. 1 验证试验方案,批量 大 、 体积小、能耗较少的设备，本标准推存采用GB5 080.7 标准中的定时截尾统计试,验方案5: 3,5+7,5* 9，见附录A表A5;其接收概率曲线，见附录A图A5一图A7。单台或,少量设备，可采用序贯截尾统计试验方案4:7和4:9，验证试验方案参数的确定与3.1.1条,规定相同,3.2.2 验证试验样本,验 证 试 验样本按3.1.2条规定选取,故障分类与处理,验证 试 验 中出现所有故障，都应划分为关联故障和非关联故障两类，在验证试验方案确定,时.应根据设一备的枝术参数制定出故障判据,4门关联故障,s)/T 103136-93,4.1 .1 间歇故障,4门.2 未证实的故障:指故障不能重现、尚在ill喳中或不能确定原因的故障,4.1.3 独立故障，包括,a. 设 备设计引起的故障;,b 设 备 制造引起的故障;,c 零 部件设计引起的故障:,a. 零 部件制造引起的故障;,c. 外 购件、配套件引起的故障;,F. 由 于生产方提供的操作、维护、修理程序引起的故障;,9. 软 件引起的故障,4.1.4 一次协助超过了规定时问的故障.,注 ① S EM1标准(半导体设爷和材料国际组织标准)对半导体设备作如下规定:设备操作人员粗过G分,钟 的 一 次 协 助 就 记 为 次故障,② 各单 位 可 按 设备不同待点， 次协助超过多少时问就记为一次故障，在产品技术标准或在台同中,加 以 规 定 ,4.2 非关联故障,a. 安 装损坏;,b. 意 外事故或使用不当;,c. 由 于检测仪器和试验用设备而引起的故障;,d. 按 设 备使用说明书规定的正常工作调整就能清除的故障;,. 山 独立故障引起的从川故障;,r 有 寿 命期限规定的元器件和零部件，工作超过规定更换期而未更换所引起的故P%};,9. 故 障原因已经查明.a `取了纠正措施证实有效，并在设备中已得到改,t:的独立故障……
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